产品描述
日本日置HIOKI 1116 X-Y C高速飞针测试机是一款高性能的PCB测试设备，以下是其一些关键特性和规格：
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高速测试能力：
- 1116 X-Y C HiTESTER能够实现最大70步/秒的测试速度（1116-5x型号）或45步/秒（1116-2x型号），这得益于其0.1mm的最小探针间距和双探针臂的同时电容测量。
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电容测量分辨率：
- 该设备拥有5aF（1aF=10^-18F）的电容测量分辨率，能够检测到极微小的变化，确保高精度的测试结果。
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支持多种PCB：
- 从普通的裸板到高密度的BGA、CSP或MCM封装，1116 X-Y C HiTESTER都能适应，包括堆叠封装。
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高精度探针：
- 探针精度为±50μm，定位返回精度为±20μm，确保了对精细间距图案垫的准确探测。
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大型测试区域：
- 测试区域可达610(W)×510(D)mm，允许对大型板进行测试。
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真空固定方式：
- 采用真空固定方法固定被测试的板，无需夹具即可在搬运和测试过程中固定板，实现板上所有区域的测试。
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高速软着陆功能：
- 在移动过程中提升探针，并仅在测试时降低，通过减少接近目标时的下降速度来减轻冲击，最小化探针冲击。
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适用于薄板：
- 能够测试厚度从0.1mm到3.2mm的板，包括柔性电路板。
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多种电气测量：
- 除了电容测量，1116 X-Y C HiTESTER还可以测量电阻、电感、二极管VF和电压。
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标准装载系统：
- 配备单轴执行器移动真空固定夹具，便于从外部设置待测试板。
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双键盘高度：
- 键盘可以放置在两个高度，适应站立和坐姿工作姿势。
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