产品描述
功能及特点：
镍金膜厚测试仪采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度，适用于单镀层、双镀层、多镀层及合金镀层，不限基材
。
可测量的镀层元素范围广泛，包括金、镍、铜、银、锡、锌、铬、铑、铂、锌镍合金等
。
能够测量多达5层的镀层
。
测量产品位置尺寸：标准配备0.2mm准直器，测量产品大于0.4mm（可订制更小准直器）
。
测量时间通常为15秒，具备全自动台面、自动雷射对焦、多点自动测量功能
。
应用领域：
主要应用于电子、汽车等行业，适应电镀生产企业、产品来料检测、半导体、五金电镀等相关行业
。
检测电子电镀、五金电镀、PCB板、LED支架、半导体连接器等电镀层厚度
。
测量范围：
镀银测量范围0.1-50um，镀镍测量范围0.5-30um，镀铜测量范围0.5-30um，镀锡测量范围0.5-50um，镀金测量范围0.02-6um，镀锌测量范围1-30um，锌镍合金测量范围1-25um，镀铬测量范围0.5-25um
。
品牌与型号：
韩国Micropioneer XRF-2020和XRF-2000L是两款镍金膜厚测试仪，具备全自动台面和自动雷射对焦功能，能够多点自动测量
。
菲希尔无损多层镀层金镍测厚仪，适用于多层镀层厚度测量及材料分析，可定量和定性分析样品的元素组成
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