产品描述
新设备:霍尔效应测量装置DC常温型、制造商:日本制造商
概要:半导体样品的基础物性评价装置。放置样品,并通过来自附属PC的操作执行控制,以显示电阻率、进位载流子浓度和迁移率的计算结果。这是一种通过弹簧板探头确保电接触的方式,所以不需要导线本田。我们将根据您的研究内容和使用情况进行设计制作。
设备配置和规格:
1、测量系统本体:直流电流源、直流电压表独立、稳定精密的测量、van der Pauw法测量、磁场自动反转机构自动测量。
2、直流電圧計:最大許容入力電圧:1kV、最小分解能:100nV、※100mVレンジ
输入阻抗:1GΩ
※100 mA范围
显示位数:6位数
3.试样架:通过探针式进行简单的试样交换,通过设置在台架上部的更换用工作台进行顺利的更换性
4、測定環境:測定温度:室温
5、大小:H760 mm×W660 mm×D532 mm
6、PC動作環境:Windows7, XP, Vista対応
7、磁铁:产生磁场强度:5.5 kOe
8、磁铁:采用漏磁通少的永久磁铁,可通过可选改变磁场强度(可根据咨询进行特别定制。)
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