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霍尔效应测量装置DC常温型

新设备：霍尔效应测量装置DC常温型，制造商：日本制造商，简介：概要、半导体样品的基础物理性评价装置。设置样品，通过附属PC的操作进行控制，显示电阻率、进位类型进位浓...

所属分类：

二手设备仪器

关键词：

半导体

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产品描述

新设备：霍尔效应测量装置DC常温型，制造商：日本制造商
简介：概要、半导体样品的基础物理性评价装置。设置样品，通过附属PC的操作进行控制，显示电阻率、进位类型进位浓度、迁移率的运算结果。因为是通过弹簧板探测来确保电接触的方式，所以不需要钢丝本田。根据研究内容和使用情况进行设计制作。
装置构成及规格：
1、测量系统主体、直流电流源、直流电压计独立稳定精密测量、van der Pauw法测量、磁场自动反转机构自动测量
2、直流电压计：最大容许输入电压：1kV，最小分辨率：100nV，※100mV范围，输入阻抗：1GΩ，※100mA范围，显示位数：6位数
3、样品座：通过探测式简单更换样品，通过安装在台架上部的更换作业台进行顺畅更换
4、磁体：采用泄漏磁通量少的永久磁体，可通过选择来变更磁场强度（根据您的商量特别订购）
5、龙门形状：□10mm厚度2mm以下，通过调整探针位置可支持□7~□18mm
6、磁铁：产生磁场强度：5.5kOe
7、测量环境：测量温度：室温
8、测量：参数设定后，包括磁场旋转在内的全自动测量、计算
9、尺寸：H760mm×W660㎜×D532㎜
10、PC动作环境：支持Windows 7、XP、Vista
11、直流电流源
最大输出：±200mA
最小分辨率：100nA
输出噪声：30nAp-p以下（3mA，1kΩ）
※频率mA范围、DC-100Hz低频噪声