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美国FEI扫描电子显微镜(SEM)Inspect S50

所属分类：

二手设备仪器

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产品描述

美国FEI公司的Inspect S50扫描电子显微镜（SEM）是一款高性能的低真空SEM平台，具有以下特点和规格
：

高分辨率能力：Inspect S50使用热发射电子光学，能够提供高分辨率的成像能力。

低真空设置：特别适合于非导电和重污染材料的检查和特性分析，同时最小化了样品准备的复杂性，实现了无电荷成像和分析。

高真空分辨率：显著的高真空分辨率增强了系统的灵活性，使其能够与多种样品类型和广泛的通量范围一起工作。

操作简便：直观、简便易用软件，即使电镜新手也能轻易上手。

分析能力：能够对导电和非导电样品进行准确的EDS和EBSD分析。

高亮度FEG：可选的束流减速模式，可以从导电样品中获得表面和组成信息。

技术规格：

电子光学：高性能电子光学镜筒，双阳极热发射电子枪，固定式物镜光阑，45°锥度物镜极靴，及“穿过透镜”的压差真空系统。
加速电压：200 V - 30 kV。
束流：最大2 μA并连续可调。
放大倍数：13 x – 1,000,000 x。
分辨率：
高真空下30 kV时，二次电子（SE）为3.0 nm，背散射电子（BSE）为4.0 nm。
低真空下30 kV时，SE为3.0 nm，BSE为4.0 nm。
3 kV时SE为8.0 nm（高真空），低真空下为10 nm。
检测器：包括E-T二次电子探头、大视场低真空气体二次电子探头(LFD)、高灵敏度、低电压固体背散射探头等。
安装要求：电源电压230 V，耗电量< 3.0 kVA，主机重量约450 kg

出售2011年款美国FEI牌工作状态高级电镜一台,原价250万RMB，现在打折卖。适用于半导体，高校，研究所，PCB等电子行业。

业务微信/热线：13360688780

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美国FEI扫描电子显微镜(SEM)Inspect S50

采用先进的样品室真空技术以及 FEI 的世界一流电子光学和样品生产量技术。只要检验、表征、工艺控制和失效分析至关重要，则 Inspect S50 和 Inspect F50 型显微镜的高分辨率成像必不可少。直观的用户界面和软件、直接通过工具栏即可访问的为记录和存储图像所需的所有功能非常适合多用户环境，同时全方位地操作可应用各种样品杆的样品台给仪器带来了额外的使用价值和灵活性，满足对不同样品大小和应用的需求。

美国FEI扫描电子显微镜(SEM)Inspect S50的特点：

• 易用且直观的软件可确保初学者也能进行高效操作

• 轻松表征导电和绝缘样品（S50 型）

• 确保使用稳定的高电流 FEG （最高 200 nA）进行快速、准确的 EDS 和 EBSD 分析（F50 型）

• 使样品制备数量降至最低：低真空可实现绝缘样品的非荷电成像和分析（S50 型）

• 大幅减少更改加速电压 (kV) 时对镜筒的调整。所有调整均会依据用户选择的加速电压及/或照射点设置自动执行（F50 型）

• 确保在高真空和低真空条件下进行准确的导电和绝缘样品 EDS 和 EBSD 分析，使用“经由透镜”抽气技术创造高真空和低真空环境（S50 型）

• 利用可选射束减速模式获取导电样品的表面和成分信息（F50 型）

美国FEI扫描电子显微镜(SEM)Inspect S50的技术规格：

分辨率加速电压探针电流

nspect S 高真空

3.0nm/30kV (SE)