产品描述
新设备：霍尔效应测量装置（AC/DC低温型），制造商：日本制造商
概要：半导体样品的基础物理性评价装置。设置样品，通过附属PC的操作进行控制，显示电阻率、进位类型进位浓度、迁移率的运算结果。因为是通过弹簧板探测来确保电接触的方式，所以不需要钢丝本田。可以在AC测量和低温（90K）下进行测量。根据研究内容和使用情况进行设计制作。
装置构成及规格：
测量单元：霍尔效应测量方法：根据Van der Pauw法，测量（标准）交流磁场的AC测量（可选），样品施加电压：±100V以下，最高分辨率：1nV（在10mV输入范围内），电压计输入阻抗：10GΩ以上，电阻测量范围：10-5Ω～10-6Ω（标准）（高电阻选项有），※测量对象的膜厚为1μm左右的情况下，霍尔迁移率可计算范围：10-2～106cm/V/s，※单士官电阻值不满105Ω的情况下，测量方法：来自控制用PC的自动执行及显示。
电磁铁：
最大磁场强度：±0.4T以上
磁场均匀性：中心位置φ7（mm）±1%以内
冰箱：
温度范围：90K~室温（标准）（有高温/低温选项）
温度稳定性：±0.1K以内
其他
样品形状：□5mm（其他尺寸也可对应）
所需电力：100V/20A×1系统及200V/50A×一个系统
控制：通过PC控制设置样品后自动测量（施加电流/电压、电流/电压测量、磁场、温度自动控制）
运算处理：根据测定结果，电阻率、载波类型、载波浓度、迁移率、自动运算等：自动确认欧米克特性，通过控制程序自动调整测量时间常数，将测量后的所有数据以文本形式保存。
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