F42 2D厚度显微测量仪

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产品描述

F42 2D厚度显微测量系统可以进行显微区域 的高分辨率厚度测量,能够绘制超过一百万点的厚 度测绘图,每一点的测量面积最小为3微米。利用集 成的CCD摄影机,实时视频功能使其易于指明准确 的测量点。当被测点置于视野内以后,只要在它周 围划一个框进行分析即可。对屏幕上每一单个像素 都能进行厚度测量,产生的测量点尺寸最小为3微 米。这样即便在沟槽和空洞最狭窄的地方也能进行 测量。利用F42系统的测绘能力可以检查结构的均 匀性。点击一次,就能计算超过一百万个独立的厚 度并以易于阅读的渐变测绘方式显示出来。可以自 动计算出平均厚度和其他统计结果,并把所有超出 范围的厚度测量情况通知用户。利用拟合优度标 准,可以在排除所有其他区域的同时对感兴趣的区 域逬行测绘。
产品应用:
印刷电路板
半导体制造
液晶和有机发光二极管显示器

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